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- 技術資料
BI6201系列老化測試系統是專為半導體激光器芯片老化測試而設計的高密度、多功能老化測試系統。
該系統采用主框架和大單層結構，集成多通道驅動電源、溫度控制器和實時數據采集功能，標準化的抽屜和定制化的老化
夾具適用于不同尺寸的 CoC（Chip on Carrier），更換產品后只需更換夾具即可與系統兼容，如果產品需要增加新的功能，比
如熱敏電阻監控、功率監控就需要更換新的抽屜。
BI6201的驅動電路設計具有卓越的二極管保護功能，任何情況下不會有電流或電壓過沖(EOS)，軟件可配置電流和電壓的門
限，超過限制時系統可關閉異常通道保護被測芯片。系統設計還考慮了通道間絕緣性能和靜電保護，全面確保CoC老化測試
過程的穩定性和安全性。
夾具：
魚骨型夾具設計，支持CoC在夾具上打金線
溫度控制：
•
每個夾具具備獨立的加熱、控溫、監控、超溫保護和散熱單元，實現節能的控溫設計
•
根據被測芯片的老化條件，可選擇加熱片或TEC方案進行產品溫控
•
緊密的溫度控制結構具有卓越的導熱特性，熱沉溫度均勻性偏差不超過±1.0℃（40～100℃）
驅動電源：
•
系統支持最多8448路標準電源
•
自動電流控制模式（ACC）確保控制電路向每顆半導體激光器提供穩定電流，即使被測芯片接觸電阻發生變化，老化期間
的供應電流也保持恒定
安全可靠性：
驅動板通過可靠的硬件設計和軟件協同的綜合保護機制，有效消除可能對被測芯片造成損害的潛在問題，包括EOS等
在線功率監測：
支持在線功率監控選項配置，可進行完整的LIV或EA掃描，具備Ith分析能力，測試重復性<±1%，使系統成為研發階段可靠性測
試的更佳選擇
容量大：
單系統最多支持4224個CoC同時老化，產能可根據客戶需求進行彈性配置
軟件功能：
軟件提供簡潔明了的用戶界面，使用戶清晰了解每個器件的狀態。所有測試結果、狀態和異常記錄均自動保存至數據庫，支持高
效的數據存儲和結果追溯查詢。此外，老化數據也可上傳至數據庫。軟件還集成了快速檢查功能，方便用戶迅速獲取每臺設備
的詳細信息
