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- 技術資料
聯訊儀器800G光模塊測試儀是集光口誤碼分析儀(BERT)，三溫控制單元為一體的誤碼綜合測試系統。集成多路誤碼儀，多路待
測光模塊MCB，多路獨立控溫單元。無需外部射頻電纜互聯，通過不同熱循環設置，實現不同環境溫度條件下的高速光模塊誤碼
測試;
通過可更換式設計的MCB測試卡，無需額外的高速射頻線纜，實現靈活快捷的DUT插拔式測試；通過更換MCB測試卡以及配套
測試夾具，可實現不同封裝種類的光模塊測試，主要包括800G QSFP-DD, OSFP等光模塊，并兼容400G光模塊;
測試項包括光模塊誤碼測試，FEC測試,發射機校準，DMI信息監測，電壓電流測量，電壓調制(拉偏測試)等;
MCB測試卡專配的溫循壓接盒套件，支持TEC溫循(空載：-10~+85℃，帶載模塊DMI溫度-5~＋85 ℃)；通過配置高冷量功率的水冷
機實現高效率的溫度循環測試；
產品優異的信號質量(上升/下降時間快、抖動低)、豐富的功能(支持FEC糾錯分析)、靈活的選件配置和超高的整機集成度，為高速
串行電路產品預研、設計和生產測試提供了強大的性能和靈活性保障。
應用靈活：速率范圍寬，性能優異
速率支持范圍：24.33-58GBaud
各通道可獨立配置為NRZ或PAM4信號制式
支持切換輸入輸出極性
信號質量優異：快速上升下降沿、低固有抖動
支持高擺幅輸出，以及3/7階預加重，inner eye等多樣化發射機調制器
支持豐富測試碼型: PRBS7~31Q；SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定義碼型等
觸發信號支持分頻輸出；支持軟件程控切換時鐘輸出
支持多臺ATE并行程控，靈活執行各通道DUT的BER/FEC測試及TEC溫循
綜合成本低，效率高，一站式解決
配件/選件豐富;耗材維護成本低；MCB耗材可獨立更換
測試工位配置更加靈活，配件更換便捷，綜合測試成本顯著降低
集成TEC溫循件，實現低成本化的快速高效的三溫測試
