半導體特性分析儀_4200-SCS型半導體特性分析系統
容易使用的4200-SCS型半導體特性分析系統用于實驗室級的器件直流參數測試、實時繪圖與分析，具有高精度和亞fA級的分辨率。它提供了先進的系統集成能力，包括完整的嵌入式PC機，Windows操作系統與大容量存儲器。其自動記錄、點擊式接口加速并簡化了獲取數據的過程，這樣用戶可以更快地開始分析測試結果。其它一些特征使得應力測量功能能夠滿足各種可靠性測試的需求。
* 直觀的、點擊式Windows操作環境
4200-SCS型半導體特性分析儀4200-SCS型半導體特性分析儀
* 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA
* 用于高級半導體測試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
* 集成了示波與脈沖測量功能的新型示波卡
* 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、制圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
* 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試并提供測試序列與循環控制功能
* 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規
4200-SCS型半導體特性分析儀4200-SCS型半導體特性分析儀
范的樣品測試
* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈沖發生器等多種外圍設備
* 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用于外接儀表控制與測試平臺集成，是KITE功能的擴充
* 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針臺
* 支持的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
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