低損耗材料介電性能測試系統(tǒng) （0.8GHz~170GHz）
方案概述
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)測試頻率范圍可達0.8GHz~170GHz，可實現低損耗材料復介電常數高精度測試。系統(tǒng)由矢量網絡分析儀、測試夾具、連接器及系統(tǒng)軟件等組成，根據用戶不同頻率測試需求，可選用開放同軸諧振腔、分體諧振腔、準光學諧振腔三種不同測試夾具進行測試。
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)采用諧振法進行測試，具有測試精度高、速度快、測試便利等優(yōu)點，采用一腔多模點頻測試，可實現同一腔體寬頻帶內多頻點介電性能測試功能。
主要特點
測試精度高、速度快
系統(tǒng)配置簡單、易操作
測量軟件簡單易用，自動化程度高
開放同軸諧振腔測試方法
開放同軸諧振腔測試法根據用戶需求可選用0.8GHz/2.45GHz/4.2GHz/6GHz/7.6GHz、1GHz/3GHz/5GHz/7GHz/9GHz、2GHz/6GHz/10GHz/14GHz/18GHz三種規(guī)格腔體進行測試。開放同軸諧振腔操作方便，樣品要求低，僅需將樣品加工成1cm見方以上、表面光滑的方片即可，樣品放置在諧振腔頂端。該方法特點是測試方便，可在一定頻帶內完成多個頻點的高精度測試。
分體諧振腔測試方法
分體式諧振腔為兩個對稱半圓柱結構，待測試樣品加工成平板狀放置在兩個半腔之間。利用加載樣品前后諧振特性參數改變進行計算得到材料相對介電常數和損耗角正切。分體諧振腔為單點頻測試諧振腔，可根據用戶測試頻點需求定制腔體。
準光學諧振腔測試方法
準光學諧振腔測試平臺為開放式結構，具有超寬頻帶（12GHz~170GHz）測試的優(yōu)點，在損耗測量精度上具備更大優(yōu)勢。根據用戶不同測試頻率需求可選配不同配置的準光學諧振腔測試平臺。
微擾諧振腔測試方法
測試采用圓柱微擾諧振腔測試夾具，諧振腔測試為單點頻測試，測試樣品為長條形圓柱或矩形條，根據用戶需求定制測試頻點，最高頻率可到20GHz。
系統(tǒng)軟件
低損耗材料介電性能測試系統(tǒng)軟件可以在0.8GHz~170GHz頻段多頻點測量固體介質材料的介電常數、損耗角正切等電性能參數，軟件可自動進行多頻點識別測試。
測試方法選擇功能
根據選用的測試方法的不同，會進行相應方法的測試參數設置及校準提示。
介電性能計算功能
根據空腔及加載樣品后的S參數，可對低損耗類樣品的Q值及頻率進行識別并提取，通過軟件實現寬頻帶下對樣品多頻點計算功能。
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